XDL / XDLM / XDAL
憑借電機驅動（可選）與自上而下的測量方向，XDL? 系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號，從而能夠根據不同的測量需求選擇最適合的 X 射線儀器。
特性：
X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合，可完成各種測量任務
由于測量距離可以調節（最大可達 80 mm），適用于測試已布元器件的電路板或腔體結構的部件
通過可編程 XY 工作臺與 Z 軸（可選）實現自動化的批量測試
使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器，非常適用于測量超薄鍍層（XDAL 設備）
應用：
鍍層厚度測量
材料分析
